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貴陽光譜儀|光譜儀用途|欣晟泰：

GB/T 4336-2002 碳素鋼和中低合金鋼火花源原子發射光譜分析方法(常規法)

GB/T 11170-2008 不銹鋼多元素含量的測定火花放電原子發射光譜法(常規法)

GB/T 24234-2009 鑄鐵多元素的測定火花放電原子發射光譜法

GB/T 26042-2010 鋅及鋅合金分析方法光電發射光譜法

GB/T 7999-2007 鋁及鋁合金光電直讀發射光譜分析方法

GB/T 13748.21-2009 鎂及鎂合金化學分析方法 第21部分：光電直讀原子發射光譜分析 方法測定元素含量

GB/T 11066.7-2009 金化學分析方法銀、銅、鐵、鉛、銻、鉍、鈀 、鎂、錫、鎳、錳和 鉻含量的測定火花原子發射光譜法

YST 482-2005 銅及銅合金分析方法光電發射光譜法

GBT 4103.16-2009 鉛及鉛合金化學分析方法第16部分:銅、銀、鉍、銻、錫、鋅含 量的測定光電直讀發射光譜法

CSM 01010105-2006 火花源發射光譜法測定低合金鋼測量結果不確定度評定規范

SN/T 2083-2008 黃銅分析方法火花原子發射光譜法

SN/T 2489-2010 生鐵中鉻、錳、磷、硅的測定 光電發射光譜法

YS/T 559-2009 鎢的發射光譜分析方法

SN/T 2785-2011 鋅及鋅合金光電發射光譜分析法

SN/T2786-2011 鎂及鎂合金光電發射光譜分析法

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光譜儀：采用光譜儀進行光譜分析中樣品只需要打磨掉表面氧化皮，固體樣品即可放在樣品臺上激發，免去了化學分析鉆取試樣的麻煩。對于鋁及銅、鋅等有色金屬樣品而言，貴陽光譜儀，可用小車床車去表面氧化皮即可。

化學法：化學法取樣是原來的檢測方法中重要的環節，取樣環節很容易因為取樣人的波動而產生微量變化，從而影響測量結果，另外取樣時間是整個測試中長的過程。

二、出結果的時間  光譜儀：從樣品激發到計算機報出所有元素分析含量只需數秒至數十秒，速度非常快，有利于縮短生產時間，降低成本。特別是對那些容易燒損的元素，更便于控制其后的成份。

化學法：在取樣工作完成的情況下，每幾分鐘出一個元素的檢測結果。

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X射線熒光光譜儀原理圖

X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)儀的原理主要基于：原子受到X射線的作用，其內層電子被激發，形成空穴，原子處于不穩定的激發態。為了回到穩態，光譜儀保養，原子的外層電子會躍遷回內層，多余的能量以熒光形式釋放出來，被偵測器檢測到，通過此來做分析。通常，光譜儀用途，可以將X射線熒光光譜分析儀可分為波長色散性和能量色散性。共元素干擾在日常的分析工作中，XRF這種分析方法經常會出現共元素干擾。這種共元素干擾的問題主要起源于X熒光射線偵測器對于X熒光射線的分辨率的限制所致，只要是XRF都會遭遇到相同的問題。共元素干擾主要分為三類：兩相近共元素干擾、加乘波峰、逃離波峰。

（1）兩相近共元素干擾：由于兩元素在能譜圖上的位置相近，以至于偵測器無法分別出兩者之間的差距。如鉛(La10.55Kv)、(Ka10.54Kv)。

（2）加乘波峰：由于某元素的濃度異常高，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，將在能譜兩倍的位置上出現一根波峰。如大量的鐵(Ka6.4Kv)，會在能譜12.8Kv處出一根小波峰。造成誤判。但此種情形極為少見。

（3）逃離波峰：由于某元素的濃度異常高，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，將在此元素的能譜位置前一個硅Ka的能譜距離多出一根小波峰而造成誤判，但情形極少出現。如錫(Ka25.27K)-硅(Ka1.74Kv)=23.53Kv≈鎘(Ka23.17 Kv)。

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